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> XDV®-SDD德國菲希爾Fischer X射線熒光測厚儀
德國菲希爾Fischer X射線熒光測厚儀
簡要描述:
高性能X射線熒光測試儀,配有可編程XY平臺和Z軸,可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
更新時間:2023-03-06
訪問量:2873
廠商性質:代理商
生產地址:德國
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產品介紹:
儀器特點
高級型號儀器,具有常見的所有功能
射線激發量的靈活性zui大,激發量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器,在 > 10萬cps(每秒計數率) 的超高信號量下也可以正常工作,而不會出現能量分辨率的降低
極低的檢測下限和出色的測量重復度
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
大容量便于操作的測量艙
典型應用領域
測量極薄的鍍層,例如應用于電子和半導體行業中
痕量分析,例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
進行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產業
測量 NiP 鍍層的厚度和成分
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